半导体的制造过程涉及多个复杂且精细的工艺步骤,这些步骤共同确保了最终产品的质量和性能。以下是半导体制造的八大工艺流程。
过程:晶圆加工是半导体制造的第一步,主要是从硅砂中提取高纯度的硅,然后将其熔化成液体,再凝固成单晶固体形式,称为“锭”。接着,使用金刚石锯将锭切割成薄片,这些薄片就是晶圆。
例子:通常,晶圆的直径有150mm、200mm或300mm等,直径越大,可以从单个晶圆上切割出的芯片数量越多。
过程:在晶圆表面形成一层薄的二氧化硅(SiO₂),这层氧化膜作为绝缘体,保护下方的硅,并在后续步骤中作为模板。氧化过程通常需要在高温(800至1200摄氏度)环境下进行,通过氧气或蒸气在晶圆表面的流动形成二氧化硅层。
技术分类:根据氧化反应中氧化剂的不同,热氧化过程可分为干法氧化和湿法氧化。干法氧化使用纯氧产生二氧化硅层,速度慢但氧化层薄而致密;湿法氧化则需同时使用氧气和高溶解度的水蒸气,其特点是生长速度快但保护层相对较厚且密度较低。
过程:光刻是通过光线将电路图案“印刷”到晶圆上。首先,在晶圆上涂覆一层光刻胶,然后通过控制光线照射来完成电路印刷。光刻胶分为正胶和负胶两种,根据光(紫外线)反应性的区别,正胶在受光后会分解并消失,留下未受光区域的图形;负胶则在受光后会聚合并让受光部分的图形显现出来。
例子:在曝光过程中,印刷图案越精细,最终的芯片就能够容纳更多元件,这有助于提高生产效率并降低单个元件的成本。EUV光刻是当前备受瞩目的新技术。
过程:刻蚀是去除晶圆上不需要的材料的过程,以揭示光刻步骤中定义的电路图案。刻蚀可以是湿法或干法。湿法刻蚀使用化学溶液去除氧化膜,具有成本低、刻蚀速度快和生产率高的优势;干法刻蚀则使用气体或等离子体去除选定部分,具有更高的精细度。
例子:反应离子刻蚀(RIE)结合了化学刻蚀和物理刻蚀的优点,可以实现高精细度图案的刻蚀。
过程:薄膜沉积是在晶圆上沉积一层或多层薄膜的过程,这些薄膜可能是导电或绝缘的,用于构建电路的不同部分。沉积过程可以采用化学气相沉积(CVD)、原子层沉积(ALD)和物理气相沉积(PVD)等技术。
例子:在制造晶体管时,需要在晶圆上沉积一层栅极氧化膜和一层栅极金属膜。
过程:互连是通过金属布线将晶圆上的不同电路元件连接起来的过程。这通常涉及在晶圆上沉积一层薄金属膜,并通过刻蚀等工艺形成所需的电路连接。
例子:在制造集成电路时,需要使用铝、铜等金属材料将晶体管、电阻器、电容器等元件连接起来。
过程:测试是半导体制造过程中的重要环节,用于确保每个芯片都符合设计规格和性能要求。测试包括晶圆测试和芯片测试两个阶段。晶圆测试是在晶圆上对每个晶片进行验收测试,确保每个晶片都合格;芯片测试则是在封装后对芯片进行电气特性测试,以确保其正常工作。
例子:在晶圆测试阶段,会使用针测仪器对每个晶片进行检测,不合格的晶片会被标上记号并在切割晶圆时被筛选出来。
过程:封装是将晶圆切割成单个的半导体芯片,并将它们封装在保护性材料中的过程。封装可以保护芯片免受损害,同时提供与外部电路的连接点。封装过程包括装片、固定、键合联接、塑料灌封、引出接线端子等步骤。
例子:在封装过程中,会使用超细的金属导线或导电性树脂将芯片的接合焊盘连接到框架衬垫的引脚,使芯片与外部电路相连。然后,使用塑料外壳对芯片进行封装保护。