1.什么是基线？
基线由谱图上那些没有明显吸收的部分构成。理论上，这些部分的吸收是零（或 100%透过率）。实际上，基线可能是倾斜、漂移或弯曲的。
基线漂移
2. 为什么会出现基线不平的情况？
影响基线的因素包括背景谱图的质量、样品的质量、样品的制备方式及所用附件的类型。
· 固体样品和KBr压的片可能发生散射，特别是在压片前没有将样品与KBr仔细研磨的情况下。大颗粒引起散射，导致高频吸收增加，基线朝高频方向向上倾斜。
· 样品片太厚或样品与背景的透过相差太大，会导致基线位于零吸收之上。
· ATR谱图中的吸收值可能朝低频方向向上倾斜，这是由于对样品的穿透深度增加，反射损失的能量增多。
· 如果参考谱图与样品谱图的基线明显不同，则差谱后整体基线可能不接近零吸收。
3. 基线校正的意义？
对谱图进行基线校正后，在检索库、作差谱或标峰时均可以获得更好的结果。平直的基线也有利于谱图对比或定量分析。
4. 自动基线校正
选中需要处理的谱图（如果是%透过率格式的数据，需要先点击“数据处理--吸光度”调整为吸光度格式的数据），点击菜单栏“数据处理--自动基线校正”，软件会自动选择基线点来校正基线，窗口中会显示校正前后的2条曲线，将校正后的曲线数据保存即可。
5. 手动基线校正
有时自动校正基线并不能得到满意的处理结果，就可以选择手动校正基线，操作步骤：
①选中需要校正基线的谱图，点击菜单栏“数据处理--基线校正”，出现基线校正窗口，这个窗口包括两个谱图区，上方是原始谱图，在上谱图区中点击基线的时候，校正结果显示在下谱图区中。
②在窗口左上角下拉式列表中选择所需的算法。在上谱图区中点击想要校正的第一个基线点，出现一条通过该点的水平线。
③依次点击其他需要校正基线点的位置，此时基线会随着点击的基线点进行连接。
④基线校正完成以后，点击上方“替代”可以用校正的谱图代替原始谱图，或者“加”将校正的谱图加到谱图窗口中去。
▲注意：添加基线点的时候要小心，不要引入假峰及其它误差。
6. 高级ATR校正
点击菜单栏的“数据处理--高级 ATR 校正”可以校正ATR光谱中由于吸收带的偏移和穿透深度的改变所带来的影响。
